摘要:本文基于超结理论,设计了深槽型半超结垂直双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管(DT-SSJ VDMOS),通过Silvaco TCAD仿真软件对其电学特性进行了仿真研究,并对比讨论了DT-SSJ VDMOS与深槽型VDMOS(DT VDMOS)及深槽型超结VDMOS(DT-SJ VDMOS)的电学特性。深沟槽的引入打破了栅氧化界面垂直电场高斯定律的限制,降低了栅氧化层峰值电场;相对于超结结构,半超结的引入降低了工艺复杂度,同时提升了器件稳定性。仿真结果表明,DT-SSJ VDMOS的击穿电压(BV)为1000V,比导通电阻(Ron,sp)为26.78 mΩ.cm2及品质因数(FOM)为37.565 MW/cm2。与DT VDMOS器件相比,DT-SSJ VDMOS的BV提高了100%,FOM提高了57%;与DT-SJ VDMOS器件相比,其Ron,sp降低了35.9%,FOM提高了5%,采用深沟槽和半超结结构,更好地折中了击穿电压和比导通电阻之间的矛盾,器件的整体性能也得到了提升。