高温高效率半导体激光器阵列封装结构研究
CSTR:
作者:
作者单位:

(重庆光电技术研究所, 重庆 400060)

作者简介:

杨 璠(1962-),男,重庆人,高级工程师,主要从事半导体光源、探测器的光纤耦合封装及大功率半导体激光器阵列封装的研究和开发工作;

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Research on High Temperature and High Efficiency Semiconductor Laser Array Packaging Structure
Author:
Affiliation:

(Chongqing Optoelectronics Research Institute, Chongqing 400060, CHN)

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    分析了热沉和陶瓷基板对背冷式封装结构半导体激光器阵列性能的影响。通过栅格化厚铜填充技术降低了复合金刚石热沉的等效电阻,并实现了热膨胀系数匹配;采用热沉和陶瓷基板嵌入焊接技术,提高了封装散热能力和稳定性。制作了间距为0.4mm的5Bar条芯片阵列样品,在70℃热沉温度、200A工作电流(占空比为1%)条件下进行性能测试,结果显示器件输出功率为1065W、电光转换效率为59.2%。在高温大电流条件下进行了1824h寿命试验,器件表现出良好的可靠性。

    Abstract:

    The influence of heat sink and ceramic substrate on the performance of semiconductor laser array with back-cooled packaging structure was analyzed. The equivalent resistance of the heat sink of composite diamond was reduced and the matching of thermal expansion coefficient was realized by rasterized thick copper filling technology. Using heat sink and ceramic substrate embedded welding technology, the heat dissipation ability and stability of the packaging structure was improved. Then the sample of 5Bar chip array with 0.4mm spacing was fabricated, and test results indicate that at 70℃, 200A and 1% duty cycle, the output power and the electro-optic conversion efficiency can reach 1065W and 59.2%, respectively. The sample shows good reliability in the 1824hours life test under high temperature and high current.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2021-07-07
  • 出版日期:
文章二维码

漂浮通知

①《半导体光电》新近入编《中文核心期刊要目总览》2023年版(即第10版),这是本刊自1992年以来连续第10次被《中文核心期刊要目总览》收录。
②目前,《半导体光电》已入编四个最新版高质量科技期刊分级目录,它们分别是中国电子学会《电子技术、通信技术领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国图象图形学学会《图像图形领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国电工技术学会《电气工程领域高质量科技期刊分级目录》(T3)和中国照明学会《照明领域高质量科技期刊分级目录》(T2)。
③关于用户登录弱密码必须强制调整的说明
④《半导体光电》微信公众号“半导体光电期刊”已开通,欢迎关注