三结GaAs电池损伤对输出特性的影响研究
CSTR:
作者:
作者单位:

(四川大学 电子信息学院, 成都 610064)

作者简介:

敬 浩(1995-),男,硕士研究生,主要研究方向为光电子器件;

通讯作者:

中图分类号:

TM914.4

基金项目:

国家自然科学基金项目(2015AA8042038).


Effects of Damage of Triple-junction GaAs Cells on Output Characteristics
Author:
Affiliation:

(College of Electronics and Information Engin., Sichuan University, Chengdu 610064, CHN)

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    摘要:

    针对发生损伤后三结GaAs电池的电学特性进行了研究。从三结电池的等效电路模型出发,根据光伏效应相关理论,建立了GaAs三结电池损伤分析模型,具体计算了损伤发生在不同位置时,光电池输出电压、功率、效率的变化。结果表明,顶结发生热熔损伤对电池的电学特性影响最大,将直接导致光电转换效率下降17.23%。中结发生热熔损伤对电池的电学特性影响次之, 将引起4.23%的效率下降。底结损伤对电池的电学特性影响相对最小,所导致的光电转换效率下降量为2.42%。

    Abstract:

    The electrical characteristics of triple-junction GaAs cell subjected to damage were studied. Based on the equivalent circuit model, a damage analysis model of GaAs triple-junction cell was established with the photovoltaic effect theory. The effects of damages at different locations on the output voltage, power and efficiency of the cells were discussed in detail. The results show that the hot melt damage of the top junction has the greatest impact on the electrical characteristics of the battery, which will directly reduce the photoelectric conversion efficiency by 17.23%. And the hot melt damage appears at the middle cell or the bottom cell will reduce the photoelectric conversion efficiency by 4.23% and 2.42%, respectively.

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  • 收稿日期:2019-05-07
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