摘要:通过对半导体激光器辐射效应的分析,得到了器件在空间环境中的损伤规律和退火规律。根据辐射效应的特点,将器件的性能退化表示为泊松过程与指数过程的结合,建立了基于马尔科夫过程的可靠性模型,利用一步概率转移矩阵获得了故障概率分布函数、可靠度函数以及平均故障前时间的计算方式。根据已有数据,对半导体激光器在空间辐射环境中的性能退化过程进行了仿真,得到了总测试时间为100 000h时器件的故障概率分布曲线,计算得出平均故障前时间约为42 758.9h,此时器件可靠度为0.451。分析了不同时间条件下器件的状态概率分布律,结果符合器件性能退化的一般规律,能够描述出器件的失效过程。 更多还原
