谐振腔损耗曲线拟合
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:

陕西省教育厅省级重点实验室重点科研计划项目(2010JS002).


Study on Curve-fitting for Resonant Cavity Loss
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    功率谱曲线的半高宽是谐振法测量光学谐振腔腔体损耗的重要参数之一。针对测量的电压曲线存在噪声大、纹波大、波形失真严重等问题,采用扫频激光作为入射光源,利用Labview软件编程对实验数据进行曲线拟合,有效地去除了测量噪声,使电压曲线的半高宽具有较好的重复性。最后按照一定的算法将其转换为功率谱曲线的半高宽,从而计算出被测腔体的损耗。在不增加硬件成本的基础上提高了测量精度。

    Abstract:

    The Full Width At Half Maximum(FWHM)of the power spectrum curve is one of the most important parameters of the resonance method for measuring the loss of optical resonant cavity. But in the measured voltage curve, there are such problems as serious noise, big ripple, and serious waveform distortion. In this paper, frequency-sweeping laser was adopted as the incident light source,and the Labview software was used to process fitting analysis on the experimental data. The measurement noise is eliminated effectively and the FWHM of the voltage curve after experiments possesses good repeatability,which can be transformed into the FWHM of the power spectrum curve by a certain mathematical algorithm so that the loss of the tested cavity can be calculated. The measurement accuracy is enhanced without increasing hardware cost.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2012-04-11
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2013-01-10
  • 出版日期:
文章二维码

漂浮通知

①《半导体光电》新近入编《中文核心期刊要目总览》2023年版(即第10版),这是本刊自1992年以来连续第10次被《中文核心期刊要目总览》收录。
②目前,《半导体光电》已入编四个最新版高质量科技期刊分级目录,它们分别是中国电子学会《电子技术、通信技术领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国图象图形学学会《图像图形领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国电工技术学会《电气工程领域高质量科技期刊分级目录》(T3)和中国照明学会《照明领域高质量科技期刊分级目录》(T2)。
③关于用户登录弱密码必须强制调整的说明
④《半导体光电》微信公众号“半导体光电期刊”已开通,欢迎关注