缺陷图像实时检测技术研究
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

电子科技大学中山学院;

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TP274

基金项目:

广东省省部产学研结合项目(2010B090400037)


Research on Real-time Detection of Image Defects
Author:
Affiliation:

LIU Yan,YU Xiaoyu (Zhongshan Institute,University of Electronic Science and Technology of China,Zhongshan 528402,CHN)

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在缺陷检测系统中,图像数据量庞大直接影响系统的成本和实时性。针对此问题,对缺陷图像实时检测技术进行了研究。首先,根据材料缺陷含量少的特点研究了图像压缩方法;采用图像压缩方法设计了数据封装格式,通过计算可知此封装格式最大数据压缩比可达2 560.0;利用以现场可编程门阵列(FPGA)为核心的下位机硬件和上位机软件实现了此技术;实验证明此技术能够去除冗余背景信息,实时获得缺陷图像,具有数据压缩比高,硬件成本低等特点。

    Abstract:

    The cost and speed of defect detection system are directly affected by the large amount of data.Aim to solve this problem,real-time detection technology of image defects was studied.Firstly,according to the materials characteristic of containing few defects,an image compression method is studied.Then,a data packaging method is designed by using the image compression method.Calculations prove that the maximum data compression ratio of this package format can be up to 2 560.0.Field programmable gate array(FPG...

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2012-02-09
  • 出版日期:
文章二维码

漂浮通知

①《半导体光电》新近入编《中文核心期刊要目总览》2023年版(即第10版),这是本刊自1992年以来连续第10次被《中文核心期刊要目总览》收录。
②目前,《半导体光电》已入编四个最新版高质量科技期刊分级目录,它们分别是中国电子学会《电子技术、通信技术领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国图象图形学学会《图像图形领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国电工技术学会《电气工程领域高质量科技期刊分级目录》(T3)和中国照明学会《照明领域高质量科技期刊分级目录》(T2)。
③关于用户登录弱密码必须强制调整的说明
④《半导体光电》微信公众号“半导体光电期刊”已开通,欢迎关注